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| 超越係列折光率儀 |
| 點擊次數：279次 發布時間：2018-10-25 |
設計簡約，性能出眾梅特勒-托利多超越係列折光率儀適合廣泛的應用，可勝任幾乎任何樣品的準確測量。
高達5位小數的測量準確度，直觀的操作和模塊化的工作流程，可輕鬆避免不準確性並獲得可重複的準確結果。
超越係列台式折光率儀：今日完美的解決方案，未來持續保值的投資。 
操作直觀折光率測量從未如此簡單！ 通過簡單的操作規程和直觀的觸摸屏用戶界麵，快速進行測量。梅特勒-托利多的不同分析解決方案均采用 One Click™，它便於快速執行測量任務，從而簡化您的日常工作和確保操作輕鬆自如。 
一鍵掌控質量通過一鍵操作設計可最大限度降低培訓與操作人員的影響，以實現全自動質量控製分析隻需按下儀器屏幕上的快捷鍵，產品測量結果將被自動驗證是否在限值範圍內，並在結果中通過顏色直觀顯示是否達標。 
自動分析通過最大限度地減少對操作人員幹預的需要，節省時間、降低成本並提高操作安全。 通過自動化測量可提高測量數據的質量：確保始終按照相同的方式執行所有步驟。通過全自動測定，提高數據重複性和準確性。 
使用LabX®實現數字化管理讓你的實驗室永不過時。 LabX®不隻是一個儀器管理軟件，它能夠管理數據、儀器和用戶，同時在儀器觸摸屏上直接顯示任務。< 通過與ELN、LIMS或SAP係統的雙向集成，可節省紙張、避免抄寫錯誤並確保數據完整性。 |
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